Mikroskopie

Mikroskopie

Mikroskop atomárních sil SolverNEXT, firmy NTMDT

  • kontaktní mód (topografie, režim frikčních sil, režim modulové síly, silovou spektroskopii),

  • nekontaktní mód (topografie v nekontaktním i poklepovém režimu, měření fázových obrazů, mikroskopii elektrostatických sil, měření magnetických sil, mikroskopii Kelvinovou sondou, skenovací kapacitní mikroskopii),

  • litografie (silová, napěťová),

  • skenovací tunelovací mikroskopie (topografie, spektroskopie),

  • rozsah v osách x,y: 100 x 100 mikrometrů, v ose z 10 mikrometrů,

  • šum v ose z - 0,04 nm, v osách x, y - 0,2 nm se zapnutými kapacitními senzory (tj. s aktivní linearizací), 0,02 nm v případě vypnutých kapacitních senzorů.

Mikroskop atomárních sil ExplorerTM, firmy Thermo Microscopes

  • mikroskop umožňuje měření v kontaktním i nekontaktním módu, v suchém i kapalném prostředí,

  • AFM dry skener, 8 mikrometrů z, linearizovaný, maximální rozsah x,y: 100 x 100 mikrometrů,

  • AFM liquid skener, 8 mikrometrů z, linearizovaný, maximální rozsah x,y: 100 x 100 mikrometrů,

  • AFM dry skener, 0,8 mikrometrů z, maximální rozsah x,y: 2 x 2 mikrometry,

  • AFM liquid skener, 0,8 mikrometrů z, maximální rozsah x,y: 2 x 2 mikrometry,

  • celé zařízení doplňuje antivibrační stůl typu PSVT – 1000 s kompresorem JUN–AIR Model 3-0,5/3-1,5/3INP–0,5, který umožňuje dosažení vyšší kvality obrazu,

  • data obdržená z mikroskopických měření jsou zpracovávána počítačem vybaveným systémem Windows NT 98 a softwarem SPMLab 5.01.

Skenovací elektronový mikroskop PHILIPS XL-30 s rentgenovým spektrometrem EDAX

  • W elektronové dělo, max. urychlovací napětí 30kV,

  • detektory sekundárních a odražených elektronů,

  • rozlišení 3,5 nm při 30 kV, 25 nm při 1 kV,

  • energiově disperzní rtg spektrometr (analýza prvků v rozsahu C až U),

  • liniová a plošná analýza.

Světelný mikroskop Olympus BX51

Světelný digitální mikroskop VHX-500 (Keyence Corporation, Japan)

  • budova CNT, místnost N109

  • Mikroskop umožňuje velkou hloubku ostrosti, pozorování stejného místa během naklánění a rotace objektivu, možnost měření s objektivem mimo mikroskopický stolek, 3D pozorování a měření a až 1000 násobné zvětšení. HDR technologie zlepšuje optické rozlišení až o 25%. Součástí mikroskopu je i 23" full HD LCD monitor.

Testování mechanických vlastností frikčních materiálů

Dynamometr LINK M2800-zakoupeno v rámci projektu CZ.1.05/2.1.00/01.0040 - Regionální materiálově technologické výzkumné centrum

  • reprodukovatelné měření brzdné účinnosti a opotřebení komerčních i laboratorně připravených (vlastní lisovací zařízení) brzdových obložení,

  • plynulá regulace setrvačnosti až do hmotnosti vozidla 3500 kg,

  • testování dle světově uznávaných testovacích procedur (SEA J2522 - AK Master; SAE J2707 - Wear test; ISO 26867 a další),

  • programování vlastních testovacích procedur,

  • odběr a analýza vznikajících nanometrických a mikrometrických částic,

  • testování za konstantních okolních podmínek 20±2 °C,

  • brzdný tlak až 200 bar.

 

 

 

Optický mikroskop

Lorem ipsum dolor sit amet, consectetur adipiscing elit, sed do eiusmod tempor incididunt ut labore et dolore magna aliqua. Ut enim ad minim veniam, quis nostrud exercitation ullamco laboris nisi ut aliquip ex ea commodo consequat. Duis aute irure dolor in reprehenderit in voluptate velit esse cillum dolore eu fugiat nulla pariatur.

 

 

Skenovací elektronový mikroskop

Lorem ipsum dolor sit amet, consectetur adipiscing elit, sed do eiusmod tempor incididunt ut labore et dolore magna aliqua. Ut enim ad minim veniam, quis nostrud exercitation ullamco laboris nisi ut aliquip ex ea commodo consequat. Duis aute irure dolor in reprehenderit in voluptate velit esse cillum dolore eu fugiat nulla pariatur.